表面形貌測量儀 /表面形貌測定儀  型號：LY-XM-200

•  X方向采用滑動導軌作為水平移動的直線基準，導軌移動的距離采用度的光柵行計量；
•  Z方向立柱也采用滑動導軌，并采用編碼器行測量，由電機-滾珠絲杠系統(tǒng)驅動；
•  可行粗糙度和輪廓度的測量，可測量、驅動、計算、顯示等，系統(tǒng)具有便攜能，可單使用，靈活方便；
•  測量軟件采用 Windows平臺，采用內標準定義和評定，數學模型整；
•  具有調整作臺可行 Y向及各種擺角調整，用戶可根據需要自由選擇，調整使用方便，能齊；
•  測量參數多，可行直線度、曲率偏差、雙溝各種參數、平行差、度等參數的測量，并可對機械件的表面形貌如粗糙度等嚴格按照內標準行測量。
•  測量度，差動電感傳感器測量靈敏性可達 0.01μm以內，X向光柵靈敏性達0.5μm以內，Z方向可行大量程度位移測量，度達4μm；
•  測量控制位多，不僅行傳統(tǒng)的 Z方向小位移測量和X方向的位移測量，還可行Z方向的大位移測量；選用Y方向移動作臺可以測量零件的三維表面型貌。
•  采用微機控制，可手動或自動循環(huán)測量、自動消除安裝誤差、自動行量程變換、直接顯示所得形狀及各種參數，并可打印輸出，具有標準數據庫存儲數據。