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方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質的薄層電阻。

方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新代產品,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質的薄層電阻。

儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。 本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。

方塊電阻測試儀是種依照類似的家標準和美A.S.T.M標準，門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等物質的薄層電阻。

該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成度穩(wěn)源；帶回路有效正常示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、度的點。

雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量,利用電探針、電壓探針的變換，行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，從而提了測量結果的準確度。