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ES660系列ESD和LU測(cè)試系統(tǒng)是一種先進(jìn)的多引腳自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備，旨在滿足現(xiàn)代半導(dǎo)體測(cè)試的嚴(yán)格要求。這款多功能設(shè)備旨在無縫支持人體模型（HBM）、機(jī)器模型（MM）和閂鎖測(cè)試，為評(píng)估集成電路（IC）和電子元件的可靠性和魯棒性提供全面的解決方案。$nES660-P1 ESD靜電和閂鎖測(cè)試系統(tǒng)能夠支持多達(dá)1024個(gè)引腳，是測(cè)試具有多種連接的復(fù)雜IC和電子元件的理想選擇。

EM602-10 Mini TEM Cell是一款工作頻段為DC-6GHz范圍的帶狀線TEM小室，能夠外接信號(hào)源產(chǎn)生電磁場(chǎng)，用于測(cè)試IC，無線通信模塊等。外部信號(hào)通過EM601輸入端口進(jìn)行加載，在小室腔體內(nèi)生產(chǎn)一個(gè)均勻、可控的電磁場(chǎng)，進(jìn)行被測(cè)模塊或IC的抗擾度測(cè)試。IC或其他模塊安裝在測(cè)試夾具上放入小室，其產(chǎn)生的輻射場(chǎng)特性也可以通過信號(hào)接收機(jī)連接EM601小室端口進(jìn)行檢測(cè)

A4003 ESD 電流靶校準(zhǔn)套件（電流靶、適配器 （或 50 Ω 錐形適配器） 校準(zhǔn)套裝）是一套完整的多合一校準(zhǔn)測(cè)量裝置，用于檢測(cè)ESD電流靶的頻率響應(yīng)（ – 4GHz），檢測(cè)ESD電流靶適配器頻率響應(yīng)（-4GHz），還可根據(jù) IEC/EN 61000-4-2 或 ISO10605標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)校準(zhǔn)靜電放電模擬器波形。

ES62X-LVS 型低壓浪涌測(cè)試系統(tǒng)能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標(biāo)準(zhǔn)的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級(jí)和封裝級(jí)器件的浪涌敏感度測(cè)試。系統(tǒng)具有瞬態(tài)波形測(cè)量和靜態(tài)IV曲線測(cè)試功能，便于確定被測(cè)器件的ESD損傷閾值。