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ES622系列TLP脈沖IV曲線系統(tǒng)是一種IV曲線表征系統(tǒng)，TLP符合ANSI/ESD STM 5.5.1標(biāo)準(zhǔn)，旨在高功率時(shí)域中模擬ESD事件（TLP/VF-TLP/HMM/HBM/MM脈沖）及監(jiān)控設(shè)備（半導(dǎo)體、分立器件、電路模塊等）。應(yīng)用于ESD性能表征/晶圓/封裝級(jí)ESD測(cè)試系統(tǒng)/電路模塊ESD測(cè)試/安全操作區(qū)（SOA）測(cè)試/觸摸屏ITO微帶線熔斷和擊穿測(cè)試等。

TLP傳輸線脈沖測(cè)試系統(tǒng)是一款便攜式脈沖IV-曲線特性表征系統(tǒng)，用于模擬靜電放電脈沖事件，例如TLP，vf-TLP，HMM，HBM，EFT和低壓浪涌。系統(tǒng)會(huì)檢測(cè)脈沖期間皮秒或納秒級(jí)的瞬態(tài)電壓和電流波形，并測(cè)試脈沖前、后被測(cè)器件的狀態(tài)（漏電流，擊穿電壓，偏置電流，靜態(tài)IV曲線等），可測(cè)的DUT包括靜電防護(hù)器件，半導(dǎo)體，電路模塊，觸摸板傳感器等。

ES622 Series TLP Pulsed IV-Curve System is an advanced IV-curve characterization system designed to simulate ESD events (TLP/ VF-TLP/ HMM/ HBM/MM pulse) and monitor a device