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ES62X-LVS低壓浪涌系統(tǒng)，能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標(biāo)準(zhǔn)的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級(jí)和封裝級(jí)器件的浪涌敏感度測(cè)試。系統(tǒng)具有瞬態(tài)波形測(cè)量和靜態(tài)IV曲線測(cè)試功能，便于確定被測(cè)器件的ESD損傷閾值。

ES62X-LVS Low Voltage Surge System is designed for testing the surge immunity of devices at both wafer and package levels.

ES62X-LVS 型低壓浪涌測(cè)試系統(tǒng)能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標(biāo)準(zhǔn)的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級(jí)和封裝級(jí)器件的浪涌敏感度測(cè)試。系統(tǒng)具有瞬態(tài)波形測(cè)量和靜態(tài)IV曲線測(cè)試功能，便于確定被測(cè)器件的ESD損傷閾值。